Vor zahlreichen interessierten Studierenden, Absolventinnen und Absolventen – insbesondere aus den Studiengängen Hardware-Software-Design (HSD) und Embedded Systems Design (ESD) – gab Dr. Seifert faszinierende Einblicke in die Welt der modernen Chipproduktion. Der Hörsaal war gut gefüllt und bot den idealen Rahmen für einen fachlich anspruchsvollen und zugleich persönlich geprägten Nachmittag.

Zu Beginn berichtete Dr. Seifert über seinen eigenen Werdegang – von seinem Studium an der Technischen Universität Wien bis zu fast drei Jahrzehnten Tätigkeit in den USA bei Unternehmen wie Digital Equipment Corporation, Compaq, Hewlett-Packard und Intel. Anschließend spannte er den Bogen zur heutigen Halbleiterfertigung: Milliarden nahezu atomgroßer Strukturen auf Silizium, Produktionsstätten mit Investitionen von über 20 Milliarden US-Dollar und monatliche Fertigungszahlen in Millionenhöhe verdeutlichten eindrucksvoll die Dimensionen moderner Chiptechnologie.

Ein zentraler Schwerpunkt des Vortrags lag auf Qualität und Zuverlässigkeit elektronischer Systeme. Dr. Seifert erläuterte typische Alterungs- und Ausfallmechanismen sowie die entscheidende Rolle von Quality-&-Reliability-Methoden bei der Entwicklung robuster Produkte – etwa für Hochleistungsrechner, Rechenzentren, Automotive-Anwendungen oder Raumfahrttechnik.

Für besondere Aufmerksamkeit sorgte eine ebenso unterhaltsame wie überraschend fundierte Frage aus dem Publikum: Welchen Einfluss hat es auf die Ausfallsicherheit eines Chips, wenn dieser hochkant statt flach eingebaut ist? Die Antwort zeigte eindrucksvoll, wie spannend Technik sein kann: Da kosmische Strahlung überwiegend senkrecht auf die Erdoberfläche trifft, ist die Wahrscheinlichkeit eines Strahlungstreffers bei hochkant montierten Chips tatsächlich geringer.

Ein weiteres Highlight war der Besuch des ehemaligen Doktorvaters von Dr. Seifert, der eigens aus Wien angereist war, um den Vortrag seines früheren Doktoranden mitzuerleben.

Wir bedanken uns herzlich bei Dr. Norbert Seifert für diesen inspirierenden Gastvortrag und die spannenden Einblicke in eine Schlüsseltechnologie unserer Zeit.

Kontaktinformation:
Ingenieurbüro DI Dr. Norbert Seifert, MS
Technical Consultant – Radiation Effects & Semiconductor Q&R
Executive Committee Member, LANSCE User Group (LUG) – Industry Representative
Former Radiation Effects Team Manager, Intel Corporation (Retired)

📧 Email: Norbert.Seifert@ieee.org
🔗LinkedIn: linkedin.com/in/norbertseifert