Российские ученые первыми в мире научились заглядывать внутрь структуры полупроводниковых материалов с точностью до сотен нанометров

Дата публикации: 07-07-2026 12:08:56

Новый метод трехмерной оптической диагностики, разработанный учеными из научного центра LIFT, позволяет определить кристаллическую микроструктуру полупроводника с разрешением менее 1 мкм на глубине до 2 мм — там, куда раньше не проникали даже лучшие электронные микроскопы. Он позволит создавать передовые устройства для неинвазивной и безопасной медицинской диагностики и квантовых вычислений. Исследование опубликовано в Journal of Applied Physics.

Схожие новости

#	Наименование новости	Тональность	Информативность	Дата публикации
1	Разработаны методы контроля качества полупроводников для электроники будущего	0	0	11-03-2025
2	Ученые ЮФУ научились выращивать наноструктуры на кремнии по заданному рисунку	5	7	08-07-2026
3	Усовершенствован метод создания нанопроводов для микроэлектроники	0	0	17-04-2025
4	Росатом создал первый в России чип для квантового сжатого света	8	7	02-07-2026
5	Российские ученые создали оптическую память на основе кремниевого чипа	5	7	26-06-2026
6	В Томске вырастили супертонкие полупроводники для наноэлектроники из органических молекул	0	0	30-10-2018
7	Ученые РФ разработали новый метод настройки углеродных нанотрубок для гибкой электроники	0	0	24-07-2019
8	В НовГУ разработали метод анализа микрообъектов по свету	0	5	27-06-2026
9	В России совершили прорыв в фотонных технологиях	7	8	01-07-2026
10	Ученые нашли способ повысить яркость светящихся молекулярных комплексов	5	7	06-07-2026

Классификация: Наука. Схожих патентов: 0. Схожих новостей: 10. Тональность: 7. Информативность: 8. Источник: indicator.ru.